Alman Colloid Metrix, alternatif özellikleri karakterize etmek için uzmanlaşmış bir alet şirketidir. Koloid formül analizi konusunda, CMX'in Stabino, Zeta-check ve Nano-Flex, kullanıcılara akış / Zeta potansiyeli ve partikül büyüklüğünün tamamen yeni ölçüm yöntemleri sunarken, Stabino, Nano-Flex ile birlikte, farklı pH değerleri, farklı konsantrasyonlarda tuz çözümleri ve polielektrolit çözüm sistemlerindeki partikül büyüklüğünün ve Zeta potansiyelinin değişikliklerinin ve izoelektrik noktaların ölçümünün sağlanması için çeşitli titrasyon fonksiyonları sunmaktadır.

180° DLS ölçüm ilkesi

Lazerler fiber ve zafer pencereleri üzerinden örneklere toplanır. Pencere kısmen ışığı yansıtır. Lazerin yansıtıcı ve dağıtıcı ışığı detektörde ölçülür. Sinyalin dalgalanması kısmen parçacıkların kahverengi yayılmasından kaynaklanır. Hızlı bir Fourier dönüşüm algoritması ile enerji spektrumuna dönüştürülür ve lazerin kendi frekansıyla karşılaştırılır. Herhangi bir dağılım modeli varsayılmadan, parçacık boyutu dağılımı doğrudan enerji spektrumu verilerinden hesaplanır.

180° DLS Uygulamaları

DLS yöntemine sahip NANO-flex II, örnek viskozitesi Newton sıvısı aralığında olduğu sürece neredeyse sınırsızdır, bu da sıvıda özgür bir Brown hareketi yapmak ve parçacık boyutunun doğru bir ölçümü için bir önkoşuldur. Parçacıkların bulunduğu sıvı ortam su veya organik çözücü olabilir. Dispersiyonun kritik yoğunlaşma noktası parçacık boyutu testi ve potansiyel testi ile belirlenebilir. Bu nedenle, NANO-flex II sensörü bu amaca ulaşmak için Stabino II'nin test boşluğuna daldırılabilir.

Bir ikiye bölünür.

İki fonksiyona sahip bir aletin en büyük dezavantajı, iki farklı insan grubunun kullanılmasıdır. NANO-flex II ve Stabino II hem birlikte hem de ayrı ayrı kullanılabilir.

180° DLS Özellikleri

• Optik yolu ölçülebilir (<0,3 μm), bu da birden fazla dağılım müdahalesi olmadığı anlamına gelir; Şeffaf olmayan örnekler bile ölçülebilir

• Örnek konsantrasyonu %40 v/v'ye kadar

• Parçacık boyutu test sonuçları konsantrasyon değişikliği nedeniyle değişmez

• Aynı testte yüksek dinamik aralık ve yüksek çözünürlük

• In situ test edilebilir, seyreltme gerektirmez