Işık yolunun kirlenmesi, sıkıntıları temizlemek ve temizleme süresini artırmak gibi sorunlardan endişelenmeyin. Tüm ZSX serisinin avantajlarını bir araya getirin: çift vakum sistemi, otomatik vakum kontrolü, haritalama / mikro bölge analizi, süper hafif elementlerin süper duyarlılığı ve otomatik çekirdek temizlemesi vb. ZSX PrimusIV, karmaşık örnekleri esnek bir şekilde analiz eder. 30 μm süper ince pencere ışık borusu, hafif element analizi hassasiyetini sağlar. En gelişmiş haritalama paketleri, homojenizm ve karışıklıkları tespit edebilir. ZSX Primus IV, 21. yüzyılın laboratuvar zorluklarını karşılamak için tamamen donatılmıştır

Özellikler Analiz Aralığı:

Be-U Küçük alanı Mikro bölge analizi Üst ışık tasarımı 30 μm ultra ince pencereler Haritalama: Element dağılımı He Mühürleme: Örnek odası her zaman vakum ortamında

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV, berilyum (Be) 'den uranyum (U) 'ya kadar ana ve ikincil atom elementlerini, örnek türünü - minimum standartlarla hızlı bir şekilde ölçebilen bir boru üstü sürekli dalga uzunluğu dispersiyon röntgen fluoresans (WDXRF) spektrometridir.

Yeni ZSX Rehberlik Uzmanı Sistemi XRF Yazılımı

ZSX kılavuzu, XRF ölçümü ve veri analizinin her yönünü destekler. Doğru bir analiz sadece uzman tarafından yapılabilir mi? Hayır, geçmişti. ZSX Guidance yazılımı, karmaşık ayarlarla başa çıkmak için yerleşik XRF uzmanlığına ve yetenekli uzmanlığa sahiptir. Operatörler sadece örnekler, analiz bileşenleri ve standart bileşenler hakkında temel bilgiler girmelidir. En az örtüşüme, en iyi arka plan ve düzeltme parametrelerine sahip ölçüm hatları (çizgi örtüşümü de dahil olmak üzere) kütle spektrumu ile otomatik olarak ayarlanabilir.

Yüksek güvenilirlik için ters optik ile mükemmel hafif element XRF performansı

ZSX Primus IV, yukarıda belirtilen yenilikçi optiklere sahiptir. Örnek odasının bakımı nedeniyle, kirlenmiş ışın yolu veya durma süresi hakkında endişelenmenize gerek yok. Optik bileşenlerin üzerindeki geometri temizlik sorunlarını ortadan kaldırır ve kullanım süresini uzatır. ZSX Primus IV WDXRF spektrometri, mükemmel performans ve en karmaşık örnekleri analiz etme esnekliğine sahiptir ve mükemmel hafif element (düşük Z) tespit sınırları sağlayan endüstrisin en ince terminal pencere borusu olan 30 mikron tüpleri kullanır.

Haritalama ve Çok Noktalı XRF Analizi

Eşitlilik ve sarma vücudunu tespit etmek için en gelişmiş haritalama ambalajı ile birlikte, ZSX Primus IV, diğer analitik yöntemlerle kolayca elde edilemeyen analitik bilgiler sağlamak için örneklerin basit ve ayrıntılı XRF spektroloji çalışmalarını gerçekleştirebilir. Mevcut olan çok noktalı analiz, eşitsiz malzemelerdeki örnekleme hatalarını ortadan kaldırmaya da yardımcı olur.

EZ-scan yazılımı kullanarak SQX temel parametreleri

EZ taraması, kullanıcıların önceden ayarlanmadan bilinmeyen örneklerin XRF eleman analizini yapmasını sağlar. Zaman tasarrufu özelliği sadece birkaç fare tıklaması ve örnek adını girmektedir. SQX temel parametre yazılımı ile birlikte, en doğru ve en hızlı XRF sonuçlarını sağlar. SQX, çizgi örtüşümleri de dahil olmak üzere tüm matris efektlerini otomatik olarak düzeltebilir. SQX ayrıca fotoelektronik (ışık ve süper hafif elementler), farklı atmosferler, kirlilikler ve farklı örnek boyutlarındaki ikincil uyarıcı etkileri de düzeltebilir. Eşleşme kütüphanesi ve mükemmel bir tarama analizi programı kullanarak doğruluğu artırabilirsiniz.

Özellikler

• Be'den U'ya kadar eleman analizi

• ZSX rehberlik uzman sistem yazılımı

• Dijital Çok Kanal Analizörü (D-MCA)

• EZ Analiz Arayüzü Normal Ölçümler için

• Boru borularının üstündeki optik cihazlar kirlilik sorunlarını en aza indirir

• Küçük alanı ve sınırlı laboratuvar alanı

• 500 μm'ye kadar küçük örnekleri analiz edebilir

• 30 μm tüp mükemmel hafif element performansı sağlar

• Element topografi / dağılımı haritalama fonksiyonu

• Helyum mühürlüğü, optik cihazın her zaman vakumda olduğu anlamına gelir

•